标题：同一块调试载板，换模组测试结果不同——Orin Nano 正常启动，Orin NX 16GB 卡在 EEPROM 读取报错（地址 0xae，via instance 0）

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大家好，我在排查一颗疑似故障的 Jetson Orin NX 16GB 核心板时遇到问题，做了一些交叉对比测试，想请教一下有经验的朋友帮忙看看诊断方向是否正确，或者有没有遗漏的排查点。

背景

  • 这颗 Orin NX 16GB 模组插在我们自己设计的载板上完全没有任何反应（该载板没有调试串口，无法看到日志）
  • 因此借用了另一台设备的调试载板（该载板带 UART 调试串口）来排查这颗模组

测试1：调试载板 + Orin Nano 模组（已知正常的模组）

结果：正常启动，成功进入系统并登录。

测试2：同一块调试载板 + 待测 Orin NX 16GB 模组

结果：两个 boot slot（A/B）均卡死在完全相同的位置，报错如下：

I> Task: Prepare eeprom data (0x5001975c)
E> I2C: slave not found in slaves.
E> I2C: Could not write 0 bytes to slave: 0x00ae with repeat start true.
E> I2C_DEV: Failed to send register address 0x00000000.
E> I2C_DEV: Could not read 256 registers of size 1 from slave 0xae at 0x00000000 via instance 0.
E> eeprom: Failed to read I2C slave device
C> Task 0x0 failed (err: 0x1f1e050d)
E> Top caller module: I2C_DEV, error module: I2C, reason: 0x0d, aux_info: 0x05
I> Busy Spin

失败前的阶段（SDRAM 初始化为 16GB、熔丝信息、SPE/RCE/DCE/APE/XUSB 固件签名认证）均顺利通过，说明该模组的 DRAM、QSPI 读取、安全引擎等子系统工作正常。

已做的排查

  1. 查阅了论坛上几个类似帖子（“Jetson Orin NX not booting on custom carrier board without EEPROM” 等），了解到这个报错的常见原因是载板未配备 CVB ID EEPROM。但由于同一块调试载板换成 Orin Nano 模组能正常工作，我认为这排除了"调试载板本身缺少 EEPROM"这个可能性，问题应该出在 Orin NX 16GB 模组这一侧，或者是模组到载板 EEPROM 之间的 I2C 信号路径（跨 SO-DIMM 连接器的两根针脚）。
  2. 对照官方 Pin Descriptions（DS-10712-001），初步怀疑这条 I2C 总线对应连接器上的 I2C0_SCL(Pin 185) / I2C0_SDA(Pin 187)（根据报错里的 “via instance 0” 推测，但没有 100% 确认这个对应关系）。
  3. 用橡皮擦清洁模组金手指后，问题依旧，报错完全一致。
  4. 肉眼对比检查了金手指（跟正常的 Orin Nano 模组并排对比），未发现明显的氧化、裂纹或塌陷。

想请教的问题

  1. 报错里的 “via instance 0” 是否确实对应 SO-DIMM 连接器上的 I2C0_SCL/SDA（185/187 针）？有没有更准确的资料能确认这条 I2C 总线的具体路由？
  2. 除了金手指外观检查和万用表连通性测试，还有没有其他方式可以进一步确认是模组硬件故障（而不是别的原因）？
  3. 有没有人遇到过"同一块载板，换模组结果不同"的类似案例？最终定位到的原因是什么？

感谢！